影像校正光谱仪

详细内容

OmniEvo180型光谱仪采用了我公司研发部门的力作Omni-λ180i型影像校正分（imagingspectro
graph）作为分光核心，可获得更佳的光谱分辨率和光搜集效率；配备可更换的双光栅塔台，光栅可以自由选配，使得用户可在多个不同的波长范围内扩展操作。作为一款性能优良的光谱仪，它接驳了一台英国Andor公司的科研级、制冷型的CCD（型号：iVac-DR324B），能够轻易的实现荧光、拉曼光谱等弱光探测，光谱范围覆盖400-1000nm；用户另可选配制冷型InGaAs线阵探测器，扩展光谱范围至近红外波段的900-1700nm。数据接口采用通用的USB2.0接口，用户可以通过一台计算进行波长的扫描、摄谱等操作。
        OmniEvo180型光谱仪拥有优良的光学设计和高灵敏的信号探测能力，是一款理想的光谱探测工具。

OmniEvo180型光谱仪技术规格 型号 ZOV180i-V10 光谱范围* 400-1000nm 焦距 180mm 相对孔径 F/3.9 倒线色散 3.68nm/mm（@1200g/mm） 光谱分辨率 0.35nm（@1200g/mm） 波长度 ±0.25（@1200g/mm） 波长重复性 ±0.1nm（@1200g/mm） 扫描步距 0.01nm（@1200g/mm） 光栅台 可换的双光栅塔台 光栅规格 40*40mm，进口 光栅参数 1#：1200g/mm刻线@500nm闪耀 2#： 300g/mm刻线@500nm闪耀 像面尺寸 30*10mm 探测器类型 制冷型CCD面阵 像素 1650*200 像素尺寸 16*16μm 制冷温度 -60℃ 读出噪声 6.2e@35kHz A/D转换 16bits 光谱采样率 >200spectra/s（） 计算机接口 USB2.0

OmniEvo180型光谱仪性能特点 体积小，节省空间，便于轻松的进行光学系统的布局经典 的C-T光学结构结合影像校正设计，得到的光学性能 和限度的杂散光可更换双光栅塔台设计，可实现更为 灵活的波长范围和分辨率的选择出厂前CCD已经过调 校，无需额外复杂的调整机构和程序与卓立汉光现有配件 如光源等兼容，可灵活组合成各种光谱检测系统USB 2.0接口，即插即用 注：一次摄谱范围依赖于光栅刻线数，见下页表格

iVac科研级、制冷型CCD

iDus科研级、制冷型背感光CCD
英国Andor公司的iDus-420A型CCD是一款科研级的背感光CCD产品，它采用了Andor公司专有的UltraVacTM真空封装技术，并特别针对UV波段进行优化，增强了短波探测能力，峰值量子效率达到80%以上。 
 

iDus CCD技术规格 型号 iDus-DU420A-BU 探测器类型 制冷型背感光CCD面阵 像素 1024*255 像素尺寸 26*26μm 像面尺寸 26.6*6.6mm 制冷温度 -80℃~-100℃（） 读出噪声 6e@33kHz 读出速度 35kHz，50kHz，100kHz 灵敏度 2e，3.5e，14e/count 暗电流 0.002e/pixel/s @-70℃ A/D转换 16bits 光谱采样率 > 75spetra/s （Full Vertical Bin） 计算机接口 USB2.0

CCD一次摄谱范围* 光栅刻线数 OmniEvo180 1200g/mm 100nm 600g/mm 200nm 300g/mm 400nm 150g/mm 800nm

更新时间：2024/4/10 9:36:17

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