主营产品：

     光致发光（photoluminescence） 即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。

性能特点：

●一体化的光学调校——所有光学元件只需要在初次安装时进行调校，确保高效性和易用性

● 简单易用的双光路设计——可随意在水平和垂直光路上进行切换，适用于各种常见的样品形态

● 超宽光谱范围**——200nm-1600nm

● 视频监视光路——可供精确调整测试点

● 独有的发射光谱校正功能*——让光谱测量更精准且具有可比性

● 多种激发波长可选**——325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等

● 自动mapping功能可选*——50mm×50mm测量区间，可定制特殊规格

● 电致发光（EL）功能可选*——扩展选项

● 显微拉曼光谱测量功能可选*——扩展选项

● 超低温测量附件可选*——提供10K以下的超低温测量

*选配项，请详细咨询；

**需根据实际需要进行配置确定。

 

参数规格表*

 

应用

不同制冷温度下GaN材料的PL谱

激发波长：325nm，功率：20mW，制冷机制冷温度：10K

    

 

ZnO材料的PL谱

激发波长：325nm; ZnO 薄膜样品在382nm 处有一个特别强的荧光谱带，而在500 ～ 600nm 波段，有个弱的可见光荧光谱带。通过研究这些谱带，可以反映ZnO 表面态对荧光的影响以及晶型和缺陷信息。